[实用新型]一种低温测试探杆有效

专利信息
申请号: 201621346906.X 申请日: 2016-12-09
公开(公告)号: CN206223828U 公开(公告)日: 2017-06-06
发明(设计)人: 康焱 申请(专利权)人: 北京无线电计量测试研究所
主分类号: G01R1/06 分类号: G01R1/06;G01R1/18
代理公司: 北京国昊天诚知识产权代理有限公司11315 代理人: 黄熊
地址: 100854 北京市海*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 本申请公开了一种低温测试探杆,解决超导器件超低频电压参数测量准确度低的问题。所述低温测试探杆用于连接超导器件及常温测试仪器,包含接线盒、外管、滑动法兰、波导、偏置引线、超低频电压输出引线;滑动法兰位于外管的外壁,用于将低温测试探杆固定于低温杜瓦瓶口;外管的外壁和低温杜瓦的外壁都是金属,通过滑动法兰固定后处于导通状态;接线盒位于低温测试探杆的顶部,与外管固定;偏置引线、波导和超低频电压输出引线位于接线盒和外管内部,用于连接位于所述低温测试探杆底部的超导器件;超低频电压输出引线为双芯屏蔽线。将双芯屏蔽线的屏蔽层连接低温杜瓦的外壁和地后,测量误差达到了10‑4量级。
搜索关键词: 一种 低温 测试 探杆
【主权项】:
一种低温测试探杆,用于连接超导器件及常温测试仪器,包含接线盒、外管、滑动法兰、波导、偏置引线、超低频电压输出引线,其特征在于,所述滑动法兰位于所述外管的外壁,用于将低温测试探杆固定于低温杜瓦瓶口;所述外管的外壁和所述低温杜瓦的外壁都是金属,通过所述滑动法兰固定并处于导通状态;所述接线盒位于所述低温测试探杆的顶部,所述接线盒外壁为金属,与所述外管固定并处于导通状态;所述偏置引线、波导和超低频电压输出引线位于接线盒和外管内部,用于连接位于所述低温测试探杆底部的超导器件;所述超低频电压输出引线为双芯屏蔽线。
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