[实用新型]XRF浸没探测分析仪有效
| 申请号： | 201621347478.2 | 申请日： | 2016-12-09 |
| 公开（公告）号： | CN207148014U | 公开（公告）日： | 2018-03-27 |
| 发明（设计）人： | B·J·克罗斯比;S·莱马;P·W·海尔斯;C·M·毛;T·I·沙阿;曾浩 | 申请（专利权）人： | 塞莫伽玛迈翠克斯控股有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/223 | 分类号： | G01N23/223 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司31100 | 代理人： | 江磊,王颖 |
| 地址： | 澳大利亚南*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种XRF浸没探测分析仪包含至少一个X射线源，其朝向样本发射X射线；X射线荧光(XRF)检测器，其检测从所述样本散射的X射线辐射；内标物，其响应于从所述至少一个X射线源发射的X射线而发射散射X射线辐射；以及托架组合件，其在样本测量位置与内标物测量位置之间平移所述至少一个X射线源和XRF检测器。 | ||
| 搜索关键词： | xrf 浸没 探测 分析 | ||
【主权项】：
一种XRF浸没探测分析仪，其包括：a.至少一个X射线源，其朝向样本发射X射线；b.X射线荧光(XRF)检测器，其检测从所述样本散射的X射线辐射；c.内标物，其响应于从所述至少一个X射线源发射的X射线而发射散射X射线辐射；以及d.托架组合件，其在样本测量位置与内标物测量位置之间平移所述至少一个X射线源和X射线荧光检测器。
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