[实用新型]一种用于确定解剖学测点的测量工具有效

专利信息
申请号: 201621378709.6 申请日: 2016-12-15
公开(公告)号: CN206258035U 公开(公告)日: 2017-06-16
发明(设计)人: 司运辉;王利萍;崔东娟;钱立全;赵艳红;刘涛 申请(专利权)人: 商丘医学高等专科学校
主分类号: G01B3/20 分类号: G01B3/20
代理公司: 北京同辉知识产权代理事务所(普通合伙)11357 代理人: 魏忠晖
地址: 476000 河*** 国省代码: 河南;41
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摘要: 实用新型公开了一种用于确定解剖学测点的测量工具,包括测量本体,所述测量本体上设有对准点,所述测量本体上还设有第一刻度、第二刻度、第三刻度和第四刻度,所述第一刻度、第二刻度、第三刻度和第四刻度分别位于测量本体的上下两侧,并且第一基准测点、第二基准测点、第三基准测点和第四基准测点的个数相等,且均不少于三个,所述测量本体中部设有条形孔,所述条形孔一侧设有刻度尺,所述条形孔中滑动连接有滑板。本实用新型一种用于确定解剖学测点的测量工具,结构新颖,操作方便,实现双向均可测量使用,提高测量的准确性和多样性,满足不同患者之间相互的尺寸差异问题,适合广泛推广。
搜索关键词: 一种 用于 确定 解剖学 测量 工具
【主权项】:
一种用于确定解剖学测点的测量工具,包括测量本体(1),所述测量本体(1)上设有对准点(2),其特征在于:所述测量本体(1)上还设有第一刻度(3)、第二刻度(4)、第三刻度(5)和第四刻度(6),所述第一刻度(3)、第二刻度(4)、第三刻度(5)和第四刻度(6)分别位于测量本体(1)的上下两侧,且所述第一刻度(3)、第二刻度(4)、第三刻度(5)和第四刻度(6)上分别设有第一基准测点(7)、第二基准测点(13)、第三基准测点(14)和第四基准测点(15),并且第一基准测点(7)、第二基准测点(13)、第三基准测点(14)和第四基准测点(15)的个数相等,且均不少于三个,所述测量本体(1)中部设有条形孔(8),所述条形孔(8)一侧设有刻度尺(10),所述条形孔(8)中滑动连接有滑板(9)。
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