[实用新型]一种超声扫描显微镜成像分辨力特性校准装置有效
| 申请号： | 201621382650.8 | 申请日： | 2016-12-16 |
| 公开（公告）号： | CN206270301U | 公开（公告）日： | 2017-06-20 |
| 发明（设计）人： | 黎安兵;朱永晓;蒋劲松 | 申请（专利权）人： | 贵州航天计量测试技术研究所 |
| 主分类号： | G01N29/30 | 分类号： | G01N29/30;G01N29/06 |
| 代理公司： | 贵阳中新专利商标事务所52100 | 代理人： | 商小川 |
| 地址： | 550009 *** | 国省代码： | 贵州;52 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种超声扫描显微镜成像分辨力特性校准装置，包括光栅测量系统、超声扫描显微镜、直线位移自动平移机构和校准平台，其中，所述直线位移自动平移机构安装在校准平台上，在校准平台上还安装有光栅测量系统，所述超声扫描显微镜正对校准平台，所述超声扫描显微镜和光栅测量系统均与计算机连接；校准时通过超声扫描显微镜扫描标准试块上相邻两幅图像指定点的像素灰度差值，计算出相应的实际尺寸值，并与光栅测量系统测量的直线位移自动平移机构的相应位移量进行比对，即可完成成像分辨力特性校准；本实用新型解决了目前超声扫描显微镜成像分辨力测量特性校准时标准试块安装困难以及对成像分辨力测量特性评价不全面等问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 超声 扫描 显微镜 成像 分辨力 特性 校准 装置 | ||
【主权项】：
一种超声扫描显微镜成像分辨力特性校准装置，其特征在于：包括光栅测量系统（7）、超声扫描显微镜（8）、直线位移自动平移机构和校准平台（1），其中，所述直线位移自动平移机构安装在校准平台（1）上，在校准平台（1）上还安装有光栅测量系统（7），所述超声扫描显微镜（8）正对校准平台（1），所述超声扫描显微镜（8）和光栅测量系统（7）均与计算机（6）连接。
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