[实用新型]一种基于远场涡流的金属管道缺陷检测装置有效
| 申请号： | 201621390171.0 | 申请日： | 2016-12-14 |
| 公开（公告）号： | CN206270297U | 公开（公告）日： | 2017-06-20 |
| 发明（设计）人： | 申屠锋营;楼伟民;沈常宇;朱周洪;王友清;帅少杰;孙志强;朱莺;刘泽旭;邵方可;杨泽林;李光海 | 申请（专利权）人： | 中国计量大学 |
| 主分类号： | G01N27/90 | 分类号： | G01N27/90 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 310018 浙江省*** | 国省代码： | 浙江;33 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种基于远场涡流的金属管道缺陷检测装置，由计算机、STM32开发板、功率放大器、第一激励线圈、第二激励线圈、第一检测线圈、第二检测线圈、驱动杆、进步电机和屏蔽盘组成；计算机控制STM32开发板产生一个正弦信号，经过功率放大器放大后，加载到第一激励线圈与第二激励线圈上，产生的磁场传播时有两个不同的耦合路径，一个是间接耦合能量路径，另一个是直接耦合能量路径，通过第一检测线圈和第二检测线圈来测量间接耦合磁场信号，并将信号采集进STM32开发板，通过观察信号的幅值以及相位的变化就能直观的显示是否有缺陷了，本实用新型无需霍尔元件和示波器，具有可操作性强，成本低等特点，可以应用于各类实际工程中。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 涡流 金属 管道 缺陷 检测 装置 | ||
【主权项】：
一种基于远场涡流的金属管道缺陷检测装置，由计算机(1)、STM32开发板(2)、功率放大器(3)、第一激励线圈(4)、第二激励线圈(5)、第一检测线圈(6)、第二检测线圈(7)、驱动杆(8)、进步电机(9)和屏蔽盘(10)组成；计算机(1)控制STM32开发板(2)产生一个正弦信号，经过功率放大器(3)放大后，加载到第一激励线圈(4)与第二激励线圈(5)上，产生的磁场传播时有两个不同的耦合路径，一个是间接耦合能量路径，另一个是直接耦合能量路径，通过第一检测线圈(6)和第二检测线圈(7)来测量间接耦合磁场信号，并将信号采集进STM32开发板(2)，通过观察信号的幅值以及相位的变化就能直观的显示是否有缺陷了，驱动杆(8)由进步电机(9)提供动能实现扫描，屏蔽盘(10)用来加速直接耦合磁场的衰减。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国计量大学，未经中国计量大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201621390171.0/，转载请声明来源钻瓜专利网。
