[实用新型]一种集成电路直流测试探针测试设备有效
| 申请号： | 201621397573.3 | 申请日： | 2016-12-20 |
| 公开（公告）号： | CN206258490U | 公开（公告）日： | 2017-06-16 |
| 发明（设计）人： | 陈一峰 | 申请（专利权）人： | 成都海威华芯科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/067 | 分类号： | G01R1/067 |
| 代理公司： | 成都华风专利事务所(普通合伙)51223 | 代理人： | 徐丰 |
| 地址： | 610029 四川省成都市*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及集成电路直流测试探针基座和测试平台技术领域，公开了一种集成电路直流测试探针测试设备，包括探针台、探针基座，探针基座通过紫外线照射胶带粘附于探针台上，所述探针基座内设置有紫外光灯，在探测基座外设置控制紫外光灯点亮或熄灭的紫外灯开关，当紫外灯开关控制紫外光灯处于点亮状态时，所述紫外线照射胶带的粘附力降低，方便探针基座的移动。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 集成电路 直流 测试 探针 设备 | ||
【主权项】：
一种集成电路直流测试探针测试设备，其特征在于，包括探针台、探针基座，探针基座通过紫外线照射胶带粘附于探针台上，所述探针基座内设置有紫外光灯，在探测基座外设置控制紫外光灯点亮或熄灭的紫外灯开关，当紫外灯开关控制紫外光灯处于点亮状态时，所述紫外线照射胶带的粘附力降低。
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