[实用新型]粒子检测传感器有效

专利信息
申请号: 201621407211.8 申请日: 2016-12-20
公开(公告)号: CN206601315U 公开(公告)日: 2017-10-31
发明(设计)人: 林真太郎;北冈信一;松浪弘贵 申请(专利权)人: 松下知识产权经营株式会社
主分类号: G01N15/00 分类号: G01N15/00;G01N15/06;G01N15/10;G01N21/49
代理公司: 永新专利商标代理有限公司72002 代理人: 安香子,黄剑锋
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 提供能够降低因漫射光的光噪声的粒子检测传感器。所述粒子检测传感器具备投光元件(10),向检测区域DA射出光;受光元件(20),接受散射光,该散射光是来自投光元件(10)的光因检测区域DA的粒子而散射的光;第一反射体(30),反射散射光,并引导到受光元件(30);以及光衰减部(60),用于使从第一反射体(30)排出的光衰减,在第一反射体(30)设置有用于将投光元件(10)的光导入到第一反射体(30)的内部的光导入孔(31)(第一孔),从第一反射体(30)排出的光穿过的光排出孔(32)(第二孔),在光衰减部(60)设置有从第一反射体(30)的光排出孔(32)排出的光穿过的贯通孔(61),贯通孔(61)的开口面积比光排出孔(32)的开口面积小。
搜索关键词: 粒子 检测 传感器
【主权项】:
一种粒子检测传感器,其特征在于,具备:投光元件,向检测区域射出光;受光元件,接受散射光,所述散射光是来自所述投光元件的光因所述检测区域的粒子而散射的光;第一反射体,反射所述散射光,并引导到所述受光元件;以及光衰减部,用于使从所述第一反射体排出的光衰减,在所述第一反射体设置有第一孔以及第二孔,所述第一孔是将所述投光元件的光导入到该第一反射体的内部的孔,所述第二孔是从该第一反射体排出的光穿过的孔,在所述光衰减部设置有第三孔,所述第三孔是从所述第一反射体的所述第二孔排出的光穿过的孔,所述第三孔的开口面积比所述第二孔的开口面积小。
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