[实用新型]测定用插座以及接触装置有效
| 申请号： | 201621423033.8 | 申请日： | 2016-12-22 |
| 公开（公告）号： | CN206330999U | 公开（公告）日： | 2017-07-14 |
| 发明（设计）人： | 三森周治 | 申请（专利权）人： | 株式会社SDK |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04 |
| 代理公司： | 北京同立钧成知识产权代理有限公司11205 | 代理人： | 杨贝贝,臧建明 |
| 地址： | 日本神奈川县横浜市户*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本实用新型提供一种测定用插座以及接触装置。本实用新型是将电子模块作为测定对象的测定用插座，包括基座，具有载置电子模块的凹部；第一盖体，可相对于基座转动地安装于所述基座；第二盖体，可相对于基座转动地安装于所述基座；以及接触引脚，设置于第一盖体，用以获得与电子模块之间的导通，当在将电子模块载置于基座的状态下闭合第一盖体时，第二盖体比第一盖体先盖在电子模块上。从而能够正确地对电子模块进行定位而获得切实的导通。 | ||
| 搜索关键词： | 测定 插座 以及 接触 装置 | ||
【主权项】：
一种测定用插座，其是将电子模块作为测定对象的测定用插座，其特征在于包括：基座，具有载置所述电子模块的凹部；第一盖体，可相对于所述基座转动地安装于所述基座；第二盖体，可相对于所述基座转动地安装于所述基座；以及接触引脚，设置于所述第一盖体，用以获得与所述电子模块之间的导通，当在将所述电子模块载置于所述基座的状态下闭合所述第一盖体时，所述第二盖体比所述第一盖体先盖在所述电子模块上。
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