[实用新型]一种电子设备老化测试装置有效

专利信息
申请号: 201621428404.1 申请日: 2016-12-24
公开(公告)号: CN206292777U 公开(公告)日: 2017-06-30
发明(设计)人: 唐才韬;黎伟然 申请(专利权)人: 惠州福盛创新电子技术有限公司
主分类号: G06F11/22 分类号: G06F11/22;G06F11/26
代理公司: 深圳市千纳专利代理有限公司44218 代理人: 潘丽君
地址: 516008 广东省惠州市陈江镇*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 实用新型公开了一种电子设备老化测试装置,包括底板、横向立板和纵向立板,所述底板的中部设有两块平行设置的横向立板,所述底板两端设有纵向立板,所述两块横向立板之间设有输出电源,所述输出电源内设有保护电路板,可以起到过流过压保护,避免电流或电压变化过大而影响产品的正常工作,甚至是损坏产品。所述两块横向立板的外侧设有若干块隔板,相邻两块隔板之间形成置物槽,使本实用新型可以供多个产品同时进行老化测试,提升工作效率。本实用新型电子设备老化测试装置具有方便移动、提升工作效率、具有过流过压保护、可保护内部元器件等优点。
搜索关键词: 一种 电子设备 老化 测试 装置
【主权项】:
一种电子设备老化测试装置,其特征在于:包括底板(1)、横向立板(2)和纵向立板(3),所述底板(1)的中部设有两块平行设置的横向立板(2),所述底板(1)两端设有纵向立板(3),所述两块横向立板(2)之间设有输出电源(4),所述两块横向立板(2)的外侧设有若干块隔板(5),相邻两块隔板(5)之间形成置物槽(6)。
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