[实用新型]智能手机指纹模组整版测试治具

摘要

本实用新型公开一种智能手机指纹模组整版测试治具，包括核心板、基板、PCB板、支撑板、载板和手动下压机构，所述支撑板上开有供弹簧穿入的弹簧孔和若干安装通孔，设置于PCB板上表面的弹簧穿过支撑板上的弹簧孔并与载板的下表面接触，所述PIN针座上PIN针的下端与PCB板的电接触区电接触，PIN针的上端嵌入样品槽的PIN针通孔内，所述压板下表面设置有若干与样品槽对应的凸起部和至少两根限位柱，所述手动下压机构进一步包括支架、推杆、连杆、扳手和连接件，连接件的铰接部与扳手上部活动连接，连接件的套管部套装在推杆上。本实用新型通过整版测试板的设置，可以同时满足对多组芯片性能的测试，可直接对加工完成的整版芯片产品进行一次性检测，方便快捷，减少重复性劳动，大大提高了工作效率。

主权项

一种智能手机指纹模组整版测试治具，其特征在于：包括核心板（2）、基板（3）、PCB板（4）、支撑板（5）、载板（6）和手动下压机构（30），所述PCB板（4）安装于基板（3）上表面，所述支撑板（5）安装于PCB板（4）上表面，所述载板（6）位于支撑板（5）正上方，所述核心板（2）通过一杜邦线（8）与PCB板（4）连接；所述PCB板（4）上设置有若干弹簧（9），所述支撑板（5）上开有供弹簧（9）穿入的弹簧孔（10）和若干安装通孔（11），设置于PCB板（4）上表面的弹簧（9）穿过支撑板（5）上的弹簧孔（10）并与载板（6）的下表面接触，一具有PIN针（13）的PIN针座（12）嵌入支撑板（5）的安装通孔（11）内，所述载板（6）上开有若干供待检测指纹芯片的连接器嵌入的样品槽（14），此样品槽（14）内开有供PIN针（13）嵌入的PIN针通孔（15），所述PIN针座（12）上PIN针（13）的下端与PCB板（4）的电接触区（16）电接触，PIN针（13）的上端嵌入样品槽（14）的PIN针通孔（15）内，用于与待检测指纹芯片的连接器电接触；压板（17）下表面设置有若干与样品槽（14）对应的凸起部（18）和至少两根限位柱（21），所述基板（3）上表面设置有供限位柱（21）嵌入的限位孔（22），一集线箱（23）设置于基板（3）下方，所述核心板（2）依次排列于集线箱（23）内，此集线箱（23）上表面设置有导轨（24），所述基板（3）下表面设置有若干供导轨（24）嵌入的滑块（25），导轨（24）嵌入滑块（25）内，将基板（3）与集线箱（23）活动连接；所述手动下压机构（30）进一步包括支架（31）、推杆（32）、连杆（33）、扳手（34）和连接件（35），所述支架（31）安装于集线箱（23）上表面，位于基板（3）后方，所述推杆（32）下端固定在压板（17）上表面，所述连接件（35）与支架（31）固定连接，此连接件（35）进一步包括铰接部（36）和套管部（37），该连接件（35）的铰接部（36）与扳手（34）上部活动连接，连接件（35）的套管部（37）套装在推杆（32）上，所述连杆（33）分别与推杆（32）上端和扳手（34）下部活动连接。