[实用新型]一种大口径精密轮廓测量系统

摘要

本实用新型公开了一种大口径精密轮廓测量系统，包括光源、发射镜头、成像镜头、光电探测器和信号处理单元，所述光源、发射镜头、成像镜头和光电探测器垂直于主光轴依次排列；所述光源与发射镜头位于被测物体的前端，形成发射端；所述成像镜头和光电探测器位于被测物体后端，形成反射端；所述光电探测器与信号处理单元相连，所述光源发射的光线经过发射镜头匀光和准直后，照射到被测物体上后发生反射、散射和吸收之后，未被被测物体遮挡的光线被成像镜头接收，在光电探测器上形成物体的轮廓信号并传输至信号处理单元处理。本专利兼有高精度、高稳定性，较大口径、较低成本及非接触测量等优点，特别适合于物体的轮廓检测。

主权项

一种大口径精密轮廓测量系统，其特征在于，包括光源(1)、发射镜头(15)、成像镜头(16)、光电探测器(13)和信号处理单元(14)，所述光源(1)、发射镜头(15)、成像镜头(16)和光电探测器(13)垂直于主光轴(6)依次排列；所述光源(1)与发射镜头(15)位于被测物体(7)的前端，形成发射端；所述成像镜头(16)和光电探测器(13)位于被测物体(7)后端，形成反射端；所述光电探测器(13)与信号处理单元(14)相连，所述光源(1)发射的光线经过发射镜头(15)匀光和准直后，照射到被测物体(7)上发生反射、散射和吸收之后，未被被测物体(7)遮挡的光线被成像镜头(16)接收，在光电探测器(13)上形成物体的轮廓信号并传输至信号处理单元(14)处理。