[实用新型]一种载流子增强型MOS结构有效
申请号: | 201621474548.0 | 申请日: | 2016-12-30 |
公开(公告)号: | CN206432266U | 公开(公告)日: | 2017-08-22 |
发明(设计)人: | 宋超 | 申请(专利权)人: | 苏州通富超威半导体有限公司 |
主分类号: | H01L29/78 | 分类号: | H01L29/78;H01L29/06 |
代理公司: | 南京苏科专利代理有限责任公司32102 | 代理人: | 陈忠辉 |
地址: | 215000 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本实用新型提供了一种载流子增强型MOS结构,包括一具有第一掺杂型的衬底,及在衬底内形成的具有第二掺杂型的源区和漏区,其特征在于所述源区及所述漏区之间开设有沟槽,所述沟槽内设置有负膨胀应力增强层,所述负膨胀应力增强层与所述沟槽内壁贴合。该结构不仅可以做到隔离沟槽的作用,而且还可以为MOS提供应力,负膨胀应力增强层在低温下,可以膨胀激发电子迁移活力,从而增强MOS的迁移率。 | ||
搜索关键词: | 一种 载流子 增强 mos 结构 | ||
【主权项】:
一种载流子增强型MOS结构,包括一具有第一掺杂型的衬底,及在衬底内形成的具有第二掺杂型的源区和漏区,其特征在于:所述源区及所述漏区之间开设有沟槽,所述沟槽内设置有负膨胀应力增强层,所述负膨胀应力增强层与所述沟槽内壁贴合。
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