[实用新型]换向器光学检测设备有效
| 申请号： | 201621477655.9 | 申请日： | 2016-12-30 |
| 公开（公告）号： | CN206362380U | 公开（公告）日： | 2017-07-28 |
| 发明（设计）人： | 张佳平 | 申请（专利权）人： | 深圳市伟顾德自动化设备有限公司 |
| 主分类号： | G01D21/02 | 分类号： | G01D21/02 |
| 代理公司： | 北京科亿知识产权代理事务所(普通合伙)11350 | 代理人： | 孙营营 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市光*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种换向器光学检测设备，包括上料机构、导料机构、支架和检测玻璃盘，检测玻璃盘设在支架上，上料机构设在支架的侧面，上料机构与检测玻璃盘联通，上料机构上料到检测玻璃盘上，导料机构进行导向，支架上至少设有三个单项检测机构，上述单项检测机构分别对检测玻璃盘上的工件进行单项检测。本实用新型在检测玻璃盘上设置若干单项检测机构对工件进行单项检测，能够提高检测输的，而且检测项目较多，可以随着需求进行增加。 | ||
| 搜索关键词： | 换向器 光学 检测 设备 | ||
【主权项】：
一种换向器光学检测设备，包括上料机构、导料机构、支架和检测玻璃盘，所述检测玻璃盘设在所述支架上，所述上料机构设在所述支架的侧面，所述上料机构与所述检测玻璃盘联通，所述上料机构上料到所述检测玻璃盘上，所述导料机构进行导向，其特征在于：所述支架上至少设有三个单项检测机构，上述单项检测机构分别对所述检测玻璃盘上的工件进行单项检测。
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