[外观设计]硅材料电阻率测量四探针探头有效
| 申请号： | 201630502730.1 | 申请日： | 2016-10-14 |
| 公开（公告）号： | CN304054330S | 公开（公告）日： | 2017-02-22 |
| 发明（设计）人： | 李杰;于友;刘世伟;石坚 | 申请（专利权）人： | 山东辰宇稀有材料科技有限公司 |
| 主分类号： | 10-07 | 分类号： | 10-07 |
| 代理公司： | 济宁汇景知识产权代理事务所(普通合伙)37254 | 代理人： | 刘丽 |
| 地址： | 273200 山东省济宁市泗水县圣*** | 国省代码： | 山东;37 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 1．本外观设计产品的名称硅材料电阻率测量四探针探头。2．本外观设计产品的用途本外观设计产品用于测量硅材料的电阻率、分凝、配料、统计、方块电阻。3．本外观设计产品的设计要点本外观设计产品的形状。4．最能表明本外观设计设计要点的图片或照片主视图。 | ||
| 搜索关键词： | 材料 电阻率 测量 探针 探头 | ||
【主权项】：
暂无信息
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