[外观设计]导通检查用探针有效

专利信息
申请号: 201630603934.4 申请日: 2016-12-09
公开(公告)号: CN304252958S 公开(公告)日: 2017-08-22
发明(设计)人: 寺西宏真;酒井贵浩 申请(专利权)人: 欧姆龙株式会社
主分类号: 10-05 分类号: 10-05
代理公司: 隆天知识产权代理有限公司72003 代理人: 向勇,董雅会
地址: 日本京都*** 国省代码: 暂无信息
权利要求书: 暂无信息 说明书: 暂无信息
摘要: 1、本外观设计产品的名称导通检查用探针。2、本外观设计产品的用途本外观设计产品安装于IC插座的壳体上,用于对基板与基板连接器等的导通进行检查。3、本外观设计产品的设计要点如设计1立体图、设计2立体图、设计3立体图以及设计4立体图所示的形状。4、最能表明本外观设计设计要点的图片或照片设计1立体图。5、指定基本设计设计1。6、设计1后视图与设计1主视图左右对称,故省略设计1后视图;设计2后视图与设计2主视图左右对称,故省略设计2后视图;设计3后视图与设计3主视图左右对称,故省略设计3后视图;设计4后视图与设计4主视图左右对称,故省略设计4后视图。
搜索关键词: 检查 探针
【主权项】:
暂无信息
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