[外观设计]导通检查用探针有效
申请号: | 201630603934.4 | 申请日: | 2016-12-09 |
公开(公告)号: | CN304252958S | 公开(公告)日: | 2017-08-22 |
发明(设计)人: | 寺西宏真;酒井贵浩 | 申请(专利权)人: | 欧姆龙株式会社 |
主分类号: | 10-05 | 分类号: | 10-05 |
代理公司: | 隆天知识产权代理有限公司72003 | 代理人: | 向勇,董雅会 |
地址: | 日本京都*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 暂无信息 | 说明书: | 暂无信息 |
摘要: | 1、本外观设计产品的名称导通检查用探针。2、本外观设计产品的用途本外观设计产品安装于IC插座的壳体上,用于对基板与基板连接器等的导通进行检查。3、本外观设计产品的设计要点如设计1立体图、设计2立体图、设计3立体图以及设计4立体图所示的形状。4、最能表明本外观设计设计要点的图片或照片设计1立体图。5、指定基本设计设计1。6、设计1后视图与设计1主视图左右对称,故省略设计1后视图;设计2后视图与设计2主视图左右对称,故省略设计2后视图;设计3后视图与设计3主视图左右对称,故省略设计3后视图;设计4后视图与设计4主视图左右对称,故省略设计4后视图。 | ||
搜索关键词: | 检查 探针 | ||
【主权项】:
暂无信息
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