[发明专利]一种红外测温方法及装置

摘要

一种红外测温方法及装置，首先根据预设放大倍数对所获取的原始红外图像进行放大以获取第二原始红外图像，对第二原始红外图像中的每个原始像素进行划分以得到包含多个像素的像素组；然后将每个像素组中的预设位置的像素设定为基准像素；将基准像素的温度设定为基准像素对应的原始像素的温度；再根据基准像素的温度获取多个目标像素的温度；目标像素为像素组中的一个像素；最后根据多个目标像素的温度获取预设的温度探测点的温度；温度探测点对应多个目标像素；通过所述一种红外测温方法及装置，提高了红外测温的分辨率。

主权项

1.一种红外测温方法，其特征在于，所述红外测温方法包括以下步骤：根据预设放大倍数对所获取的原始红外图像进行放大以获取第二原始红外图像；对所述第二原始红外图像中的每个原始像素进行划分以得到包含多个像素的像素组；将每个所述像素组中的预设位置的像素设定为基准像素；将所述基准像素的温度设定为所述基准像素对应的原始像素的温度；根据所述基准像素的温度获取多个目标像素的温度；所述目标像素为所述像素组中的一个像素；根据所述多个目标像素的温度获取预设的温度探测点的温度；所述温度探测点对应所述多个目标像素；所述根据所述基准像素的温度获取所述目标像素的温度的步骤包括：从所述像素组中获取距离所述目标像素最近的四个基准像素；以所述四个基准像素为顶点获取待处理区域，所述待处理区域包含所述目标像素；根据所述四个基准像素的温度获取所述待处理区域内的像素的温度；所述根据所述四个基准像素的温度获取所述待处理区域内的像素的温度的步骤包括：根据如下算式计算所述基准像素所在行的像素的温度：其中，x为所述基准像素所在行的像素的温度，a₁为所述基准像素所在行的像素和左侧基准像素的距离，a₂为所述基准像素所在行的像素和右侧基准像素的距离，x₁为所述基准像素所在行的像素的左侧基准像素的温度，x₂为所述基准像素所在行的像素的右侧基准像素的温度，b为所述待处理区域中的左侧基准像素和右侧基准像素的距离；根据如下算式计算非所述基准像素所在行的像素的温度：其中，y为非所述基准像素所在行的像素的温度，c₁为非所述基准像素所在行的像素和所述待处理区的最上行像素的距离，c₂为非所述基准像素所在行的像素和所述待处理区的最下行像素的距离，y₁为非所述基准像素所在行的像素对应的所述待处理区的最上行像素的温度，y₂为非所述基准像素所在行的像素对应的所述待处理区的最下行像素的温度，d为所述待处理区域中的上侧基准像素和下侧基准像素的距离。