[发明专利]X射线检查用的数据处理装置、以及搭载有该装置的X射线检查装置有效
| 申请号： | 201680001621.9 | 申请日： | 2016-04-20 |
| 公开（公告）号： | CN106461578B | 公开（公告）日： | 2019-08-02 |
| 发明（设计）人： | 山河勉;山本修一郎;小幡义治;山崎雅志;冈田雅宏 | 申请（专利权）人： | 株式会社蛟簿 |
| 主分类号： | G01N23/087 | 分类号： | G01N23/087;A61B6/00;A61B6/12;A61B6/14;G01N23/04;G01N23/18 |
| 代理公司： | 北京鸿元知识产权代理有限公司 11327 | 代理人： | 温剑;陈英俊 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明能够与厚度无关地并且更高精度地确定物质的种类和性状。数据处理装置(12)对从X射线管(21)照射后透过对象物并且由光子计数型检测单元(26)检测出的X射线的、在每个能量区域中以像素为单位的计数值进行处理。该装置(12)具备：根据计数值计算对象物(OB)的图像的单元(35)；以及在图像上设定关心区域的单元(35)。进一步，该装置(12)具备：从图像中除去存在于关心区域中的作为物质的背景的像素信息的单元(35)；以及根据关心区域中的X射线的在每个能量区域中以像素为单位的计数值，以该像素为单位计算物质相对于X射线特有的透过特性，以作为特有信息的单元(35)。 | ||
| 搜索关键词： | 射线 检查 数据处理 装置 方法 以及 搭载 | ||
【主权项】：
1.一种数据处理装置，对从X射线管照射后透过对象物并且由光子计数型的检测器检测出的X射线的、在每个能量区域中以像素为单位的计数值进行处理，其特征在于，具备：图像运算单元，根据所述计数值计算所述对象物的图像；关心区域设定单元，在所述图像上设定关心区域；背景除去单元，从所述图像中除去存在于所述关心区域中的作为物质的背景的像素信息；特有信息运算单元，根据所述关心区域中的所述X射线的在每个能量区域中以所述像素为单位的所述计数值，以该像素为单位计算将所述X射线透过所述物质时的透过特性表示为矢量时的、该物质所特有的信息，该特有的信息为分布图信息以及减弱信息中的至少一个，在所述分布图信息中，相对于多个所述能量区域的质量减弱矢量指示出各所述像素的所述X射线的所述透过特性，所述减弱信息表示该质量减弱矢量的大小并且表示因所述物质导致的所述X射线的减弱程度；图像制作单元，制作以所述像素为单位将由所述特有信息运算单元计算出的所述减弱信息置换为像素值的二维的吸收矢量长图像；以及图像提示单元，将所述吸收矢量长图像作为二维图像提示。
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