[发明专利]差分相位衬度X射线成像中暗场信号的优化能量加权在审

专利信息
申请号: 201680001800.2 申请日: 2016-04-25
公开(公告)号: CN106793986A 公开(公告)日: 2017-05-31
发明(设计)人: T·克勒;E·勒斯尔;G·马滕斯;H·德尔 申请(专利权)人: 皇家飞利浦有限公司
主分类号: A61B6/00 分类号: A61B6/00;A61B6/03
代理公司: 永新专利商标代理有限公司72002 代理人: 孟杰雄,王英
地址: 荷兰艾*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 用于暗场成像的装置及相关方法。所述装置操作在探测器处探测到的在不同能量通道中投影强度。能量加权被用于改善信噪比。在对数域中操作模型。
搜索关键词: 相位 射线 成像 暗场 信号 优化 能量 加权
【主权项】:
一种信号处理装置(SPM),包括:输入端口(IN),其用于接收针对不同能量通道的暗场信号数据(V),所述暗场信号数据(V)对应于在暴露于来自X射线源(XR)的X射线辐射之后的探测器(D)处探测到的所述不同能量通道中的信号;对数单元(LOG),其被配置为对所述暗场信号数据(V)取对数,以获得对数暗场信号数据(li);任选的线性变换器(LIN),其被配置为对所述对数暗场信号数据(li)进行变换;信号积分器(SINT),其被配置为通过使用对应于至少两个能量通道的能量权重将所述至少两个能量通道的经变换的对数暗场信号数据或所述对数暗场信号数据(li)积分成能量加权的暗场信号以及输出端口(OUT),其被配置为输出所述能量加权的对数暗场信号
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