[发明专利]用于测量聚合物膜的金属离子渗透率的方法和装置有效
| 申请号： | 201680003312.5 | 申请日： | 2016-01-29 |
| 公开（公告）号： | CN107076657B | 公开（公告）日： | 2020-03-31 |
| 发明（设计）人： | 金荣国;金丁鹤;金熹正;金塞拉;曹正镐;李光珠;南承希;韩智浩 | 申请（专利权）人： | 株式会社LG化学 |
| 主分类号： | G01N15/08 | 分类号： | G01N15/08 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 顾晋伟;冷永华 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及用于测量聚合物膜的金属离子渗透率的方法以及用于测量聚合物膜的金属离子渗透率的装置，所述方法包括以下步骤：向所述聚合物膜施加电压，同时使所述聚合物膜的至少一侧与包含金属离子、有机溶剂和水性溶剂的电解液接触；以及在施加电压后，测量所述聚合物膜随时间的电阻变化率或电流变化率。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 测量 聚合物 金属 离子 渗透 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种用于测量聚合物膜的金属离子渗透率的方法，包括以下步骤：向所述聚合物膜施加电压，同时使所述聚合物膜的至少一侧与包含金属离子、有机溶剂和水性溶剂的电解液接触；以及在施加电压后，测量所述聚合物膜随时间的电阻变化率或电流变化率。
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