[发明专利]陶瓷体的表面检查方法有效

专利信息
申请号: 201680003472.X 申请日: 2016-09-28
公开(公告)号: CN107110791B 公开(公告)日: 2020-09-29
发明(设计)人: 仓桥良太;水谷彰宏;寺拝贵史 申请(专利权)人: 日本碍子株式会社
主分类号: G01N21/95 分类号: G01N21/95;G01B11/30
代理公司: 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 代理人: 范胜杰;王立杰
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 提供一种能够比以往更加可靠地判定有无裂纹的陶瓷体的表面检查方法。该方法具有:拍摄工序,在针对被检查面的被照射区域照射了从隔着拍摄单元的不同方向对被检查面照射的第一照明光和第二照明光的至少一种照明光的状态下,拍摄被照射区域;判定用图像生成工序,根据拍摄结果,生成判定用图像;以及判定工序,根据判定用图像进行判定,在根据在至少照射了第一照明光的状态下得到的第一拍摄结果来生成第一判定用图像,根据在至少照射了第二照明光的状态下得到的第二拍摄结果来生成第二判定用图像时,以能够根据将两者进行对照时的各自的阴影区域的形成样态的差异来判定有无裂纹的方式来生成第一判定用图像和第二判定用图像。
搜索关键词: 陶瓷 表面 检查 方法
【主权项】:
一种陶瓷体的表面检查方法,检查陶瓷体的表面的裂纹,其特征在于,该表面检查方法具有:拍摄工序,在针对所述陶瓷体的局部表面即被检查面的预定的被照射区域照射了第一照明光和第二照明光的至少一种照明光的状态下,通过预定的拍摄单元来拍摄所述被照射区域;判定用图像生成工序,根据所述拍摄工序的拍摄结果,生成能够用于判定有无裂纹的判定用图像;以及判定工序,根据所述判定用图像,判定所述被检查面有无裂纹,从隔着所述拍摄单元的不同方向,对所述被检查面照射所述第一照明光和所述第二照明光,在所述拍摄工序中,在照射了所述第一照明光和所述第二照明光的至少一种照明光的状态下,拍摄所述被照射区域,当设为将在至少照射了所述第一照明光的状态下由所述拍摄单元进行所述被检查面的拍摄而由此得到的拍摄结果作为第一拍摄结果,将在至少照射了所述第二照明光的状态下由所述拍摄单元进行所述被检查面的拍摄而由此得到的拍摄结果作为第二拍摄结果,并在所述判定用图像生成工序中根据所述第一拍摄结果来生成第一判定用图像,根据所述第二拍摄结果来生成第二判定用图像时,以能够根据将所述第一判定用图像和所述第二判定用图像进行对照时各自的阴影区域的形成样态的差异,来判定所述被检查面有无裂纹的方式,生成所述第一判定用图像和所述第二判定用图像,在所述判定工序中,根据所述第一判定用图像和所述第二判定用图像,来判定所述被检查面有无裂纹。
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