[发明专利]发光介质及发光介质的读取方法有效
申请号: | 201680005085.X | 申请日: | 2016-01-07 |
公开(公告)号: | CN107148357B | 公开(公告)日: | 2019-04-12 |
发明(设计)人: | 青山祐子;佐藤润;山内豪;北村满 | 申请(专利权)人: | 大日本印刷株式会社 |
主分类号: | B41M3/14 | 分类号: | B41M3/14;B41M3/06;B42D25/378;G07D7/12 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 李辉;金玲 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 提供一种难以解析从发光体发出的光的发光介质。发光介质(10)具备基材(11)和发光体(12),发光体(12)具有在照射可见光、红外线或紫外线时发出第1红外线(a)的第1发光体(12A)及发出第2红外线(b)的第2发光体(12B)。第1发光体(12A)形成于第1平面区域(11A),第2发光体(12B)形成于第2平面区域(11B)。第1平面区域(11A)和第2平面区域(11B)重合而形成渐变状的重复平面区域(11C)。 | ||
搜索关键词: | 发光 介质 读取 方法 | ||
【主权项】:
1.一种发光介质,其特征在于,其具备:基材;及设置于该基材上的发光体,所述发光体包括在照射可见光、红外线或紫外线时发出具有第1波长区域的第1红外线的第1发光体及发出具有第2波长区域的第2红外线的第2发光体,所述第1发光体的第1红外线的第1波长区域与所述第2发光体的第2红外线的第2波长区域相互不同,并且第1发光体配置于基材上的第1平面区域,第2发光体配置于基材上的第2平面区域,所述第1平面区域与所述第2平面区域相互重合而形成包括第1发光体和第2发光体的发光体配置成渐变状态的重复平面区域,所述重复平面区域的发光体中的第1发光体的浓度随着从第1平面区域朝向第2平面区域逐渐地减小,第2发光体的浓度随着从第2平面区域朝向第1平面区域逐渐地减小。
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