[发明专利]低无源互调同轴连接器测试接口有效
申请号: | 201680006599.7 | 申请日: | 2016-01-12 |
公开(公告)号: | CN107251332B | 公开(公告)日: | 2019-06-04 |
发明(设计)人: | M·格拉斯尔;W·兹斯勒;A·格拉比西勒 | 申请(专利权)人: | 斯宾纳有限公司 |
主分类号: | H01R13/193 | 分类号: | H01R13/193;H01R13/52;H01R13/622;H01R13/6583;H01R24/40 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人: | 朱海涛 |
地址: | 德国*** | 国省代码: | 德国;DE |
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摘要: | 同轴RF测试连接器包括与中心轴线同轴布置的内导体和外导体。外导体包括用于保持圆形接触弹簧的凹槽。接触弹簧包括基座和多个弧形接触指状件,在从基座延伸的各个接触指状件之间具有间隙。基座的半径大于接触指状件。接触指状件具有:第一接触部分,用于在相对于中心轴线的径向方向上接触兼容性同轴连接器的外导体;以及第二接触部分,用于电容联接到凹槽的侧壁。 | ||
搜索关键词: | 无源 同轴 连接器 测试 接口 | ||
【主权项】:
1.一种同轴RF测试连接器,其具有用于在向内方向上接纳兼容性同轴连接器(100)的开口,所述同轴RF测试连接器包括内导体(40)和外导体(50),所述内导体和所述外导体两者都与中心轴线(29)同轴地布置,所述外导体(50)包括用于保持圆形的接触弹簧(55)的凹槽(45),所述接触弹簧包括多个弧形的接触指状件(56、221、223),在各个接触指状件之间具有间隙(57),所述接触指状件从用于将接触指状件附接在所述凹槽内的基座(222)延伸,并且至少一个接触指状件(56、221、223)具有用于在相对于中心轴线(29)的径向的方向上接触兼容性同轴连接器(100)的外导体(120)的第一接触部分(221),其特征在于,在所述基座(222)和所述第一接触部分(221)之间设置有第二接触部分(223),该第二接触部分(223)与凹槽(45)的侧壁(58)电容接触,并且介电材料的绝缘盘(230)处于所述第二接触部分(223)和所述侧壁(58)之间。
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