[发明专利]测定装置、测定方法、以及程序在审
申请号: | 201680007456.8 | 申请日: | 2016-02-05 |
公开(公告)号: | CN107278264A | 公开(公告)日: | 2017-10-20 |
发明(设计)人: | 坂上智;木代雅巳;新井聪一 | 申请(专利权)人: | 富士电机株式会社 |
主分类号: | G01F1/66 | 分类号: | G01F1/66;G01P5/24 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司31100 | 代理人: | 张鑫 |
地址: | 日本神*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 测定装置(100)包括测定单元(10),该测定单元(10)在流动于配管(99)内的介质(98)中传输超声波并进行接收;差分计算部(23a),该差分计算部(23a)计算差分信号,该差分信号获取了接收到的至少2个超声波的接收信号波形的差分;以及确定部(23d),该确定部(23d)基于差分信号所包含的对象信号分量,确定与超声波的发送相对应的接收时刻。通过基于差分信号所包含的对象信号分量来确定接收时刻,从而能够利用该接收时刻,高精度地测定介质(98)的流速。 | ||
搜索关键词: | 测定 装置 方法 以及 程序 | ||
【主权项】:
一种测定装置,包括:测定单元,该测定单元相对于介质传输第1测定波及第2测定波并接收该测定波;差分计算部,该差分计算部计算差分信号,该差分信号表示接收到的所述第1测定波与所述第2测定波的差分;以及确定部,该确定部基于所述差分信号所包含的对象信号分量,确定与测定波的发送相对应的接收时刻。
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