[发明专利]用于验证光学装备的验证工具和方法在审
申请号: | 201680007556.0 | 申请日: | 2016-01-15 |
公开(公告)号: | CN107206720A | 公开(公告)日: | 2017-09-26 |
发明(设计)人: | M·J·科戈曼;J·斯米恩克;N·蒂伦伯格;J·范登弗鲁格特 | 申请(专利权)人: | VMI荷兰公司 |
主分类号: | B29D30/30 | 分类号: | B29D30/30 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司31100 | 代理人: | 杨丽,陈斌 |
地址: | 荷兰*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明涉及一种用于验证光学装备的验证工具和方法,该光学装备被用于在围绕轮胎成型鼓进行一个或多个轮胎部件的缠绕施加期间测量所述轮胎部件的多个特征,其中一个或多个轮胎部件的第一轮胎部件包括多个特征中的第一特征,该第一轮胎部件在测量之后被包括多个特征中的第二特征的一个或多个轮胎部件中的相同或另一轮胎部件交叠,其中验证工具被提供有第一参考元件和第二参考元件,第一参考元件被布置成表示第一特征而第二参考元件被布置成表示第二特征,其中第二参考元件相对于第一参考元件偏移以至少部分暴露第一参考元件。 | ||
搜索关键词: | 用于 验证 光学 装备 工具 方法 | ||
【主权项】:
用于验证光学装备的验证工具,所述光学装备被用于在围绕轮胎成型鼓进行一个或多个轮胎部件的缠绕施加期间测量所述轮胎部件的多个特征,其中所述一个或多个轮胎部件的第一轮胎部件包括多个特征中的第一特征,所述第一轮胎部件在测量之后被包括多个特征中的第二特征的所述一个或多个轮胎部件中的相同或另一轮胎部件交叠,其中所述验证工具被提供有第一参考元件和第二参考元件,所述第一参考元件被布置成表示第一特征而所述第二参考元件被布置成表示第二特征,其中所述第二参考元件相对于所述第一参考元件偏移以至少部分暴露所述第一参考元件。
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