[发明专利]利用经渲染的体积成像中的平面投影的测量工具在审
申请号: | 201680007723.1 | 申请日: | 2016-01-29 |
公开(公告)号: | CN107209924A | 公开(公告)日: | 2017-09-26 |
发明(设计)人: | I-N.张;A.L-S.蔡 | 申请(专利权)人: | 美国西门子医疗解决公司 |
主分类号: | G06T1/60 | 分类号: | G06T1/60;G06T5/00;G06T7/00;G06T15/08;G06T15/20;G06T19/20;G06K9/52 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司72001 | 代理人: | 李雪娜,刘春元 |
地址: | 美国宾夕*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 用作体积渲染的部分的一个或多个平面定义用于测量的深度。剪裁平面用于裁切要渲染的体积的部分。多平面重构或改造定位各种切割平面以渲染与体积成像一起提供的二维成像。这些平面之一用于将卡尺定位投影到平面上以用于使用体积渲染的测量。基于平面定位而将放置在二维屏幕的经体积渲染的图像上的卡尺的定位转换成三维空间中的位置。 | ||
搜索关键词: | 利用 渲染 体积 成像 中的 平面 投影 测量 工具 | ||
【主权项】:
一种用于在超声体积渲染中进行测量的方法,所述方法包括:在显示器上显示通过超声扫描的组织的体积的经体积渲染的图像;在经体积渲染的图像上生成表示剪裁平面或切割平面的图形;从用户输入接收在表示剪裁平面或切割平面的图形中和在经体积渲染的图像上的测量卡尺的定位;通过处理器,基于相对于体积的剪裁平面或切割平面和经体积渲染的图像上的测量卡尺的定位而定义体积中的点定位;通过处理器,计算作为体积中的点定位的函数的量;以及输出所述量。
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