[发明专利]测量装置在审
申请号: | 201680008434.3 | 申请日: | 2016-01-29 |
公开(公告)号: | CN107209114A | 公开(公告)日: | 2017-09-26 |
发明(设计)人: | 井原辉一;西尾创;畠山義治;矢野千春;中野顺子 | 申请(专利权)人: | 日东电工株式会社 |
主分类号: | G01N21/41 | 分类号: | G01N21/41 |
代理公司: | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙)11277 | 代理人: | 刘新宇,张会华 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明提供一种测量装置,其紧凑、便携、操作简便并且能够以高灵敏度和高精度确定被检查物的量。根据本发明的测量装置设置有SPR传感器元件、光源和光接收元件。SPR传感器元件具有多个光波导。多个光波导中的至少一个光波导与固定有用于被检查物的识别物质的金属层一起构成检测单元,所述多个光波导中的至少另一个光波导与不含识别物质的金属层一起构成参照单元。 | ||
搜索关键词: | 测量 装置 | ||
【主权项】:
一种测量装置,其包括:SPR传感器元件;光源;以及光接收元件,其中,所述SPR传感器元件包括多个光波导,所述多个光波导中的至少一个光波导与固定有用于被检查物的识别物质的金属层一起形成检测单元,所述多个光波导中的至少另一个光波导与不含所述识别物质的金属层一起形成参照单元。
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