[发明专利]金属硬掩模组合物和用于在半导体基底上形成精细图案的方法有效
申请号: | 201680009834.6 | 申请日: | 2016-02-02 |
公开(公告)号: | CN107251203B | 公开(公告)日: | 2019-05-17 |
发明(设计)人: | 姚晖蓉;E·沃尔福;S·K·穆伦;A·D·迪尔西斯;赵俊衍 | 申请(专利权)人: | AZ电子材料卢森堡有限公司 |
主分类号: | H01L21/312 | 分类号: | H01L21/312 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人: | 陈晰 |
地址: | 卢森堡卢森堡L-*** | 国省代码: | 卢森堡;LU |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明涉及具有改进的稳定性的新的组合物,其包含可溶性多配体取代的金属化合物、多元醇化合物和溶剂,其用于将材料填充在具有微光刻特征的良好沟槽或通孔填充特性的光致抗蚀剂图案上,其中填充图案在基于氧的等离子体中具有良好的耐等离子体蚀刻性,并且用作在半导体基底上形成精细图案中的硬掩模,所述精细图案通过该硬掩模的图案转移形成。本发明还涉及在用于制造电子器件的方法中使用该组合物。 | ||
搜索关键词: | 金属 模组 用于 半导体 基底 形成 精细 图案 方法 | ||
【主权项】:
1.一种组合物,其包含:a)结构(I)的可溶性多配体取代的金属化合物
其中M为(4)价金属,n为1至20,并且其中R1、R2、R3和R4是独立地选自1)、2)、3)的结构部分或其混合物,条件是R1、R2、R3和R4的至少一种选自1)和2),其中1)是有机结构部分(II),
其中R8选自C2‑C10亚烷基、C3‑C12支链亚烷基、C5‑C12亚环烷基,并且另外,其中R9为氢或烷氧基羰基结构部分(IV),其中R10为C1‑C8烷基,
2)是具有结构(III)的具有至少2个碳的含硅有机结构部分
其中R5和R6独立地选自C1‑C8烷基、C3‑C12支链烷基或芳基,R7独立地选自C1‑C8烷基、芳基、羟基或结构(V)的硅氧烷,其中R11为氢、C1‑C8烷基结构部分、被羟基取代的C1‑C8烷基结构部分或芳基结构部分,并且R12和R13独立地选自C1‑C8烷基结构部分、C3‑C12支链烷基结构部分或芳基结构部分,并且其中p表示硅氧烷结构部分(V)中的重复单元数;和
3)是选自以下的有机结构部分:C2‑C8烷基、C6‑C16芳基或取代芳基、C2‑C8烷基羧基、C6‑C16芳基或取代芳基羧基、氟化C2‑C8烷基羧基、氟化C6‑C16芳基或取代芳基羧基、C2‑C8烷基磺酰基、C6‑C16芳基或取代芳基磺酰基、氟化C2‑C8烷基磺酰基、氟化C6‑C16芳基或取代芳基磺酰基及其混合物;b)具有结构(VI)的多元醇化合物
其中X为C或N,其中r为至少2并且q在0‑2范围内,并且其中当X为C时,q和r之和为4,以及当X为N时,q和r之和为3,并且另外其中R14为氢、C1至C8烷基结构部分或C2至C8羟基亚烷基结构部分;并且当X为N时,Y为C2‑C8亚烷基结构部分;当X为C时,Y独立地选自直接价键、C2‑C8亚烷基结构部分或包含具有结构(VII)的烷氧基亚烷链的结构部分,其中R15为C2至C8亚烷基结构部分,t为0至2并且t’为1至2;
和c)溶剂。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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