[发明专利]对像素进行光子计数的方法、像素化检测器和成像装置有效
| 申请号： | 201680010681.7 | 申请日： | 2016-02-22 |
| 公开（公告）号： | CN107438776B | 公开（公告）日： | 2019-11-05 |
| 发明（设计）人： | M·切梅萨尼·莱德;M·科尔斯滕;J·G·马西亚斯·蒙特罗 | 申请（专利权）人： | 达尔特斯能源物理学院 |
| 主分类号： | G01T1/24 | 分类号： | G01T1/24 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人： | 吕俊刚;王青芝 |
| 地址： | 西班牙*** | 国省代码： | 西班牙;ES |
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| 摘要： | 对像素进行光子计数的方法、像素化检测器和成像装置。公开了一种对像素化检测器中的多个像素进行光子计数的方法，其中，对于所述多个像素中的每一个，限定一个或更多个邻近像素。所述方法包括：在所述多个像素中的一个或更多个中接收电荷，并且对于所述多个像素中的每一个，将所述电荷与触发阈值进行比较。如果像素中的电荷高于所述触发阈值，则在寄存延迟之后在像素中寄存电荷，其中，所述寄存延迟取决于在像素中接收的电荷的电平，使得寄存延迟随电荷增加而减小。当电荷被寄存时，使像素的计数器递增，并且禁止邻近像素的计数器的递增。还公开了一种像素化半导体检测器。 | ||
| 搜索关键词： | 光子 计数 | ||
【主权项】：
1.一种对像素化检测器中的多个像素进行光子计数的方法，其中，对于所述多个像素中的每一个，对应邻近像素被定义为之间会发生电荷共享的像素，所述方法包括以下步骤：在所述多个像素(11‑15、21‑25、31‑35、41‑45、51‑55)中的一个或更多个中接收电荷；对于所述多个像素中的每一个，将所述电荷与触发阈值(Thr)进行比较，并且如果像素中的电荷高于所述触发阈值(Thr)，则在寄存延迟之后在所述像素中寄存所述电荷，其中，所述寄存延迟取决于在所述像素中接收的所述电荷的电平，使得寄存延迟随电荷增加而减小；针对电荷被首先寄存的像素，使该像素的计数器(27)递增；以及禁止所述对应邻近像素的计数器(27)递增。
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