[发明专利]对一次性可编程存储器电路进行编程的系统、装置和方法有效
申请号: | 201680011934.2 | 申请日: | 2016-02-08 |
公开(公告)号: | CN107258015A | 公开(公告)日: | 2017-10-17 |
发明(设计)人: | X·李;X·陆;X·陈;Z·王 | 申请(专利权)人: | 高通股份有限公司 |
主分类号: | H01L27/112 | 分类号: | H01L27/112;H01L29/423;H01L29/792 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司31100 | 代理人: | 李小芳;袁逸 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
权利要求书: | 暂无信息 | 说明书: | 暂无信息 |
摘要: | 根据本公开的一些示例的一种用于一次性可编程(OTP)存储器的半导体器件包括栅极、在该栅极下方的介电区、在该介电区下方且向一侧偏移的源极端子、在该介电区下方且向与该源极端子的相对侧偏移的漏极端子、该介电区中能够对该半导体器件进行编程的漏极侧电荷陷阱、以及该介电区中与该漏极侧电荷陷阱相对且能够对该半导体器件进行编程的源极侧电荷陷阱。 | ||
搜索关键词: | 一次性 可编程 存储器 电路 进行 编程 系统 装置 方法 | ||
【主权项】:
一种用于一次性可编程(OTP)存储器的半导体器件,包括:栅极;在所述栅极垂直下方的介电区;在所述栅极和所述介电区垂直下方且向第一侧水平偏移的源极端子;在所述栅极和所述介电区垂直下方且向与所述第一侧相对的第二侧水平偏移的漏极端子;所述介电区中的漏极侧Vt编程区,所述漏极侧Vt编程区能够对所述半导体器件进行编程;以及所述介电区中与所述漏极侧Vt编程区水平相对的源极侧Vt编程区,所述源极侧Vt编程区能够对所述半导体器件进行编程。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
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