[发明专利]欠电压检测和性能调节

摘要

本发明公开了一种欠电压检测电路和用于操作包括该欠电压检测电路的IC的方法。在一个实施方案中，IC包括具有第一比较器和第二比较器的欠电压检测电路，该第一比较器和第二比较器被配置为将供电电压分别与第一电压阈值和第二电压阈值进行比较，其中第二电压阈值大于第一电压阈值。逻辑电路被耦接成从第一比较器和第二比较器接收信号。在由对应的功能电路在高性能状态中操作期间，该逻辑电路被配置为响应于供电电压已下降至低于第一阈值的指示而使得对调节信号进行断言。被提供至功能电路的时钟信号可响应于该指示而被调节。如果供电电压随后升高到高于第二阈值的水平，则调节信号可被解除断言。

主权项

1.一种电路，包括：被配置为将供电电压与第一电压阈值进行比较的第一比较器；被配置为将所述供电电压与第二电压阈值进行比较的第二比较器，所述第二电压阈值大于所述第一电压阈值；和被耦接成分别从所述第一比较器和所述第二比较器接收第一信号和第二信号的逻辑电路，其中所述逻辑电路被配置为当对应的功能电路块正在高性能状态中操作时，如果所述供电电压下降至低于所述第一电压阈值则对调节信号进行断言，并且被进一步配置为如果所述供电电压高于所述第二电压阈值则将所述调节信号保持在解除断言状态中；其中所述逻辑电路被进一步配置为：当正在具有比所述高性能状态低的性能的性能状态中操作时抑制对所述调节信号进行断言，并且在转换至所述高性能状态时，抑制对所述调节信号进行断言，直到在所述供电电压已增加至高于所述第二电压阈值的值的时间点之后为止。