[发明专利]用于至少一个对象的光学检测的检测器在审
| 申请号： | 201680013284.5 | 申请日： | 2016-03-03 |
| 公开（公告）号： | CN107407726A | 公开（公告）日： | 2017-11-28 |
| 发明（设计）人： | R·森德;I·布鲁德;S·瓦鲁施;S·伊尔勒;E·蒂尔 | 申请（专利权）人： | 巴斯夫欧洲公司 |
| 主分类号： | G01S17/42 | 分类号： | G01S17/42;G01S17/46;G01S7/481;G01S5/16 |
| 代理公司： | 北京市中咨律师事务所11247 | 代理人： | 姜利芳,杨晓光 |
| 地址： | 德国路*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 提出了一种用于至少一个对象(112)的光学检测的检测器(110)。检测器(110)包括‑至少一个调制装置(136)，其中调制装置(136)能够产生从对象(112)行进到检测器(110)的至少一个调制光束(134)；‑至少一个纵向光学传感器(114)，其中纵向光学传感器(114)具有至少一个传感器区域(130)，其中纵向光学传感器(114)被设计成以取决于由调制光束(134)对传感器区域(130)的照射的方式产生至少一个纵向传感器信号，其中给定照射的相同总功率，纵向传感器信号取决于传感器区域(130)中调制光束(134)的束横截面并且取决于照射的调制的调制频率(138)，其中纵向传感器信号包括第一分量和第二分量，其中第一分量取决于纵向光学传感器(114)对调制光束(134)的调制变化的响应，并且第二分量取决于照射的总功率；以及‑至少一个评估装置(150)，其中评估装置(150)被设计成通过从纵向传感器信号导出第一分量和第二分量来产生关于对象(112)的纵向位置的至少一个信息项，其中关于对象(112)的纵向位置的信息项取决于第一分量和第二分量。因此，提供了一种用于精确确定空间中的至少一个对象的位置的简单且仍然有效的检测器。因此，特别地，可以分别利用包括单个大面积纵向光学传感器或单个像素化光学传感器的检测器，并且仍然能够确定对象的纵向位置而没有模糊性。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 至少 一个 对象 光学 检测 检测器 | ||
【主权项】：
一种用于至少一个对象(112)的光学检测的检测器(110)，包括：‑至少一个调制装置(136)，其中所述调制装置(136)能够产生从所述对象(112)行进到所述检测器(110)的至少一个调制光束(134)；‑至少一个纵向光学传感器(114)，其中所述纵向光学传感器(114)具有至少一个传感器区域(130)，其中所述纵向光学传感器(114)被设计成以取决于由所述调制光束(134)对所述传感器区域(130)的照射的方式产生至少一个纵向传感器信号，其中给定所述照射的相同总功率，所述纵向传感器信号取决于所述传感器区域(130)中所述调制光束(134)的束横截面并取决于所述照射的调制的所述调制频率(138)，其中所述纵向传感器信号包括第一分量和第二分量，其中所述第一分量取决于所述纵向光学传感器(114)对所述调制光束(134)的调制变化的响应，并且所述第二分量取决于所述照射的总功率；以及‑至少一个评估装置(150)，其中所述评估装置(150)被设计成通过从所述纵向传感器信号导出所述第一分量和所述第二分量来产生关于所述对象(112)的纵向位置的至少一个信息项，其中关于所述对象(112)的所述纵向位置的所述信息项取决于所述第一分量和所述第二分量。
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