[发明专利]用于用于增材制造的设备的照射系统

摘要

一种用于设备(1)的照射系统(3)，所述设备用于基于激光的增材制造，所述照射系统具有第一激光射束(13A)的第一射束源(13)和第二激光射束(15A)的第二射束源(15)，其中，第二激光射束(15A)的射束品质高于第一激光射束(13A)。照射系统(3)还具有用于在设备(1)的制造空间(5)内部聚焦第一激光射束(13A)和第二激光射束(13B)的共同的扫描仪光学器件(21)以及射束导引系统，所述射束导引系统具有用于将第一激光射束(13A)从第一射束源(13)导引至扫描仪光学器件(21)的第一射束路径(13A′)并且具有用于将第二激光射束(15A)从第二射束源(15)导引至扫描仪光学器件(21)的第二射束路经(15A′)，其中，射束导引系统具有用于将第一射束路径(13A′)的射束路径与第二射束路经(15A′)的射束路径叠加的射束组合装置(19)。

主权项

1.一种照射系统(3)，所述照射系统用于一用于基于激光的增材制造的设备(1)，所述照射系统具有：/n第一激光射束(13A)的第一射束源(13)和第二激光射束(15A)的第二射束源(15)，其中，所述第二激光射束(15A)的射束品质高于所述第一激光射束(13A)的射束品质；/n共同的扫描仪光学器件(21)，所述共同的扫描仪光学器件用于在所述设备(1)的制造空间(5)内部聚焦所述第一激光射束(13A)和所述第二激光射束(13B)；/n射束导引系统，所述射束导引系统具有用于将所述第一激光射束(13A)从所述第一射束源(13)导引至所述扫描仪光学器件(21)的第一射束路径(13A′)并且具有用于将所述第二激光射束(15A)从所述第二射束源(15)导引至所述扫描仪光学器件(21)的第二射束路径(15A′)，其特征在于，/n所述射束导引系统具有用于将所述第一射束路径(13A′)与所述第二射束路径(15A′)叠加的射束组合装置(19)，并且/n所述第一射束源(13)构造为泵浦激光器，所述第二射束源(15)构造为借助所述泵浦激光器泵浦的激光谐振器，并且所述射束导引系统还具有射束分离装置(17)，所述射束分离装置(17)布置在所述泵浦激光器与所述激光谐振器之间并且构造用于将所述第一激光射束(13A)提供给在所述射束分离装置(17)与所述激光谐振器之间延伸的泵浦激光射束路径(13B′)和/或所述第一射束路径(13A′)。/n