[发明专利]超声波探头、超声波诊断装置以及超声波探头的测试方法有效
| 申请号： | 201680013991.4 | 申请日： | 2016-02-25 |
| 公开（公告）号： | CN107405131B | 公开（公告）日： | 2020-04-07 |
| 发明（设计）人： | 梶山新也;五十岚丰;胜部勇作;西元琢真 | 申请（专利权）人： | 株式会社日立制作所 |
| 主分类号： | A61B8/00 | 分类号： | A61B8/00 |
| 代理公司： | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人： | 范胜杰;曹鑫 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明的目的在于，能够不与连接到振子的多个端子进行电接触，低成本并且不超过耐压地实现用于筛选IC内收发电路的缺陷的测试。在将晶体管设为开关元件的收发分离开关电路中，在测试时通过将栅极的电位降至比接收时更低，避免大振幅信号输入时超过栅极‑源极间耐压，不破坏接收电路地进行内部信号回送测试。 | ||
| 搜索关键词： | 超声波 探头 诊断 装置 以及 测试 方法 | ||
【主权项】：
一种超声波探头，其特征在于，具备：振子；连接到所述振子的发送电路；连接到所述振子的接收电路；以及配置在所述振子与所述接收电路之间的收发分离开关，所述收发分离开关具备2个晶体管元件，所述2个晶体管元件的栅极、源极互相连接，所述收发分离开关具备栅极电位降压电路，其用于降低所述2个晶体管的公共栅极、公共源极间的电压Vgs，在向所述发送电路输入测试信号，并从所述发送电路向所述接收电路回送所述测试信号时，通过对所述晶体管元件的栅极电位进行降压，一边保持不超过所述晶体管元件的栅极‑源极间耐压的所述公共栅极、公共源极间的电压Vgs，一边使所述测试信号通过。
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