[发明专利]单晶金刚石及其生长方法在审
申请号: | 201680014296.X | 申请日: | 2016-03-09 |
公开(公告)号: | CN107407005A | 公开(公告)日: | 2017-11-28 |
发明(设计)人: | D.S.米斯拉 | 申请(专利权)人: | 二A科技有限公司 |
主分类号: | C30B29/04 | 分类号: | C30B29/04;C23C16/27 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司72001 | 代理人: | 段菊兰,杨思捷 |
地址: | 新加坡新加坡市珠烈街6*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 单晶金刚石,所述单晶金刚石具有在考虑了514.5nm激光的瑞利宽度后经校正的半峰全宽,并且显示取决于所述金刚石的质量,存在或不存在带负电荷的硅空位缺陷;在270nm处的吸收系数下的一定浓度水平的中性取代氮[Ns0];在10.6μm波长下的FTIR透射率值;当峰高为在1332.5cm‑1处的峰高时一定浓度的带正电荷的取代氮[Ns+];当波长为在3123cm‑1处的波长时不存在氮‑空位‑氢缺陷(NVH0)物质;当使用514.5nm激光激发,一级拉曼光谱峰为在552.37nm处的一级拉曼光谱峰时,归一化的光谱;黑色或白色区域,且具有延迟到金刚石片厚度的折射率;或当在室温、黑暗环境中将所述金刚石置于355nm激光辐射时,微红色辉光和蓝色辉光。 | ||
搜索关键词: | 金刚石 及其 生长 方法 | ||
【主权项】:
单晶金刚石,包括:考虑了514.5nm激光的瑞利宽度后,经校正的半峰全宽(FWHM),取决于所述金刚石的质量,显示存在或不存在带负电荷的硅空位缺陷,当吸收系数为在270nm处的吸收系数时,显示一定浓度水平值的中性取代氮[Ns0],当波长为在10.6μm处的波长时,显示一定值的FTIR透射率,当峰高为在1332.5cm‑1处的峰高时,显示一定浓度值的带正电荷的取代氮[Ns+],当波长为在3123cm‑1处的波长时,显示不存在氮‑空位‑氢缺陷(NVH0)物质,当使用514.5nm激光激发,一级拉曼光谱峰为在552.37nm处的一级拉曼光谱峰时,显示归一化的光谱,显示黑色或白色区域,且具有折射率(Δn),其中Δn=R/t,其中R=延迟,且t为金刚石片(plate)的厚度,以及当在室温、黑暗环境中将所述金刚石置于355nm激光器辐射时,显示微红色辉光和蓝色辉光。
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