[发明专利]通过竞争分析的小分子的纳米孔隙检测有效

专利信息
申请号: 201680014418.5 申请日: 2016-03-11
公开(公告)号: CN107430107B 公开(公告)日: 2019-08-30
发明(设计)人: T·J·莫林 申请(专利权)人: 双孔人公司
主分类号: G01N33/00 分类号: G01N33/00;G01N33/48;G01N33/50;G01N33/53
代理公司: 北京市金杜律师事务所 11256 代理人: 陈文平;徐志明
地址: 美国加利*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 本文公开了用于通过进行目标与替代之间的竞争分析和随后在纳米孔隙中检测复合物类型来检测混合样品中的目标小分子的方法和组合物。本文公开了使用纳米孔隙检测小分子的竞争分析。足够大小(>20kDa)的目标分子在穿过固态纳米孔隙时引起电流阻抗、转位时间或其它可测量参数的变化。在目标分子不足够大且因此不引起明显的变化的情况中,另外的分子/试剂可以用于帮助检测。这一检测试剂将结合小分子或“捕获配体‑分子复合体”(例如,肽检测通过识别肽/适体复合体的单克隆抗体(mAb)帮助)。
搜索关键词: 通过 竞争 分析 分子 纳米 孔隙 检测
【主权项】:
1.一种用于检测疑似存在于样品中的目标分子的存在或不存在的方法,包括:提供包含层的装置,其中所述层将所述装置的内部空间分隔成第一体积和第二体积,其中所述层包含连接所述第一体积和所述第二体积的纳米孔隙,且其中所述装置包含配置为识别穿过所述纳米孔隙的物体的传感器;提供替代分子、融合分子和聚合物骨架,所述融合分子包含适应于结合所述聚合物骨架以形成骨架/融合分子复合体的聚合物骨架结合结构域,和所述融合分子包含适应于结合所述替代分子或所述目标分子的目标分子结合结构域;通过将所述替代分子和所述融合分子与所述样品组合来进行竞争分析,其中,如果所述目标分子存在于所述样品中,所述目标分子与所述替代分子竞争结合所述目标分子结合结构域;加载所述样品到所述第一体积中;施加跨所述纳米孔隙的电压,其中所述第一体积包含所述聚合物骨架、所述融合分子、所述替代分子和疑似包含所述目标分子的所述样品,其中所述聚合物骨架与所述融合分子杂交,且其中所述融合分子与所述替代分子或所述目标分子杂交。
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