[发明专利]表面检测和拾取工具机械手有效
| 申请号： | 201680018392.1 | 申请日： | 2016-03-30 |
| 公开（公告）号： | CN107533078B | 公开（公告）日： | 2021-02-02 |
| 发明（设计）人： | M·X·本特森;J·赛姆;M·凯乐斯达 | 申请（专利权）人： | BD科斯特公司 |
| 主分类号： | G01N35/10 | 分类号： | G01N35/10;G01N35/00;G01N1/02;C12M1/26;C12Q1/24 |
| 代理公司： | 北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 | 代理人： | 徐东升;张颖 |
| 地址： | 荷兰，*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种拾取工具机械手设备，用于从培养介质收集样本。在第一操作模式中，允许拾取工具在轴向方向上相对于设备的支撑结构移动。检测器可响应于主体在轴向方向上的移动而产生信号，从而确定拾取工具接触介质时的高度。当从培养介质收集样本时，该设备可以第一模式操作。第二操作模式限制或阻止拾取工具的轴向移动。在一些情况下，当容纳新的拾取工具或丢弃使用过的拾取工具时，该设备可在第二模式中操作。 | ||
| 搜索关键词： | 表面 检测 拾取 工具 机械手 | ||
【主权项】：
一种用于从培养介质收集样本的设备，所述设备包括：主体，其包括用于容纳可替换的拾取工具的结构，所述主体和拾取工具组件处于大致轴向对准；检测器，其配置为在所述拾取工具被带动为与设置在所述培养介质上的样本接触时响应于施加到所述拾取工具的力而产生信号，其中所述设备配置为以至少第一模式和第二模式操作，其中所述第一模式允许所述主体和拾取工具组件在轴向方向上相对自由地移动，所述轴向方向大致垂直于所述培养介质的表面，并且与当所述设备处于所述第一模式时相比，所述第二模式对所述主体和拾取工具组件的轴向移动施加更大的阻力。
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