[发明专利]带有自动清洁的样本测试系统和方法有效
| 申请号： | 201680019878.7 | 申请日： | 2016-04-08 |
| 公开（公告）号： | CN107430144B | 公开（公告）日： | 2021-11-09 |
| 发明（设计）人： | N·D·哈根;B·J·奈特;D·欧帕斯基 | 申请（专利权）人： | 简·探针公司 |
| 主分类号： | G01N35/04 | 分类号： | G01N35/04;B08B9/08 |
| 代理公司： | 北京坤瑞律师事务所 11494 | 代理人： | 封新琴 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种样本测试系统，其包括测试容器支承结构、定位成用于传输由布置在通过测试容器支承结构支承的测试容器中的样本发出或反射的电磁辐射的光学元件、清洁构件以及自动输送臂，该自动输送臂构造成(i)可拆卸地联接清洁构件，(ii)使可拆卸地联接的清洁构件运动到邻近和/或接触光学元件的位置内，以及(iii)使清洁构件分离。 | ||
| 搜索关键词： | 带有 自动 清洁 样本 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
一种样本测试系统，包括：测试容器支承结构；光学元件，所述光学元件定位成用于传输由布置在通过所述测试容器支承结构支承的测试容器中的样本发出或反射的电磁辐射；清洁构件；以及自动输送臂，所述自动输送臂构造成可拆卸地联接所述清洁构件，使所述可拆卸地联接的清洁构件运动到邻近和/或接触所述光学元件的位置内，以及使所述清洁构件分离。
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