[发明专利]用于微波分析或测量仪器的校准装置和方法有效
| 申请号： | 201680019928.1 | 申请日： | 2016-04-04 |
| 公开（公告）号： | CN107533122B | 公开（公告）日： | 2020-10-20 |
| 发明（设计）人： | V.瓦斯勒夫;P-S.基尔达;S.拉希米内贾德 | 申请（专利权）人： | 深谷波股份公司 |
| 主分类号： | G01R35/00 | 分类号： | G01R35/00;G01D18/00;G12B13/00;H01P3/00 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 崔幼平;谭祐祥 |
| 地址： | 瑞典*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： |
本发明涉及一种用于校准例如矢量网络分析仪的分析或测量仪器的校准装置(100)。校准装置包括允许分析或测量仪器连接到其的多个校准器连接器元件(20A,20B)。其还包括具有多个校准波导结构(11 |
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| 搜索关键词： | 用于 微波 分析 测量 仪器 校准 装置 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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