[发明专利]对颗粒进行计数的设备有效
| 申请号： | 201680020247.7 | 申请日： | 2016-04-01 |
| 公开（公告）号： | CN107466364B | 公开（公告）日： | 2022-01-21 |
| 发明（设计）人： | G·库代尔 | 申请（专利权）人： | 奥里巴ABX股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N15/12 | 分类号： | G01N15/12 |
| 代理公司： | 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 | 代理人： | 李颖 |
| 地址： | 法国蒙*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种对颗粒进行计数的设备，包括检测器和比较器，所述检测器被布置用于响应于一个或多个颗粒的通过而产生电测量信号，所述比较器被布置用于比较测量信号与阈值信号，并且当测量信号超过阈值信号时增大计数值，其特征在于，所述设备还包括阈值调节电路，所述阈值调节电路将低通滤波器应用于测量信号，并且所述阈值调节电路连接到比较器以便将得出的信号作为阈值信号使用。 | ||
| 搜索关键词： | 颗粒 进行 计数 设备 | ||
【主权项】：
一种对颗粒进行计数的设备，包括检测器(12)和比较器(56)，所述检测器(12)被布置用于响应于一个或多个颗粒的通过而产生电测量信号，所述比较器(56)被布置用于比较测量信号与阈值信号，并且当测量信号超过阈值信号时增大计数值，其特征在于，所述设备还包括阈值调节电路(50)，所述阈值调节电路(50)将低通滤波器(52,54)应用于测量信号，并且所述阈值调节电路(50)连接到比较器(56)以便将得出的信号作为阈值信号使用。
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