[发明专利]傅里叶变换质谱仪有效
申请号: | 201680023387.X | 申请日: | 2016-04-20 |
公开(公告)号: | CN107533948B | 公开(公告)日: | 2019-12-03 |
发明(设计)人: | 詹姆斯·沃尔特·黑格 | 申请(专利权)人: | DH科技发展私人贸易有限公司 |
主分类号: | H01J49/08 | 分类号: | H01J49/08;H01J49/36;H01J49/42 |
代理公司: | 11287 北京律盟知识产权代理有限责任公司 | 代理人: | 蕭輔寬<国际申请>=PCT/IB2016 |
地址: | 新加坡*** | 国省代码: | 新加坡;SG |
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摘要: | 通过在四极子内施加压力及气流来以离子填充所述四极子且冷却所述离子。通过将DC电压及RF电压施加于所述四极子的四极杆、将一或多个DC电压施加于所述四极子的多个辅助电极且将DC电压及RF电压施加于位于所述四极子的端处的出射透镜来将离子陷获于所述四极子中。在所述填充及所述冷却之后,通过在所述四极杆中的至少两个杆之间施加相干激发来使所述离子相干地振荡。通过改变所述多个辅助电极的所述一或多个DC电压中的一或多个电压且改变所述出射透镜的所述DC电压来将所述相干地振荡的离子轴向地喷射穿过所述出射透镜且到达破坏性检测器以供进行检测。 | ||
搜索关键词: | 四极子 离子 出射透镜 相干 施加 辅助电极 四极杆 振荡 填充 冷却 检测器 施加压力 轴向 喷射 穿过 激发 检测 | ||
【主权项】:
1.一种用于使用线性离子阱LIT四极子(230)来相干地激发且喷射离子以供进行破坏性傅里叶变换质谱法FTMS质量分析的系统,其包括:/n四极子(230),其包含四极杆、套环电极(320)及多个线性加速器Linac电极(330),所述四极杆具有用于接收离子的进入端及用于喷射离子的出射端,所述套环电极(320)环绕所述四极杆的中心部分,所述多个Linac电极(330)定位在所述套环电极(320)与所述出射端之间;/n出射透镜(340),其与所述四极杆同轴地定位成靠近所述四极杆的所述出射端;/n破坏性检测器(360),其与所述出射透镜(340)同轴地定位且位于所述出射透镜(340)的另一侧上;及/n处理器,其与所述四极子(230)、所述出射透镜(340)及所述破坏性检测器(360)进行通信,所述处理器适于:/n为了以离子填充所述四极子(230)且一经填充便冷却所述离子,通过控制所述四极子(230)的气体入口及出口而在所述四极子(230)内施加压力及气流;/n为了在所述填充及所述冷却期间将所述离子陷获于所述四极子(230)中,将直流DC电压及射频RF电压施加于所述四极杆、将第一吸引DC套环电压施加于所述套环电极(320)、将第一排斥DC出射透镜电压及RF电压施加于所述出射透镜(340),且将DC线性加速器Linac电压施加于所述多个Linac电极(330),/n为了在所述填充及所述冷却之后使所述离子相干地振荡,在所述四极杆中的至少两个杆之间施加相干激发,且/n为了在施加所述相干激发之后将相干地振荡的所述离子轴向地喷射穿过所述出射透镜(340)且到达所述破坏性检测器(360)以供进行检测,将所述出射透镜(340)的所述第一排斥DC出射透镜电压改变为第二吸引DC出射透镜电压,其中所述第二吸引DC出射透镜电压使得在所述多个Linac电极(330)与所述出射透镜(340)之间产生电场,且所述电场使相干地振荡的所述离子朝向所述出射透镜(340)加速,并将所述套环电极(320)的所述第一吸引DC套环电压改变为第二吸引DC套环电压,其中所述第二吸引DC套环电压对相干地振荡的所述离子的吸引力比所述第一吸引DC套环电压小,但是比所述第二吸引DC出射透镜电压大。/n
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