[发明专利]用于选择用于封装的膜结构的方法在审
申请号: | 201680024004.0 | 申请日: | 2016-04-07 |
公开(公告)号: | CN107567581A | 公开(公告)日: | 2018-01-09 |
发明(设计)人: | P·桑德库伊洛;P·S·谢姆贝卡尔 | 申请(专利权)人: | 陶氏环球技术有限责任公司 |
主分类号: | G01M7/08 | 分类号: | G01M7/08;G01N3/303;G06F17/50 |
代理公司: | 北京坤瑞律师事务所11494 | 代理人: | 吴培善,王国祥 |
地址: | 美国密*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 提供有助于选择用于封装中的膜结构的方法。在一个方面中,一种选择用于封装中的膜结构的方法包括通过有限元素法(FEM)分析确定封装的临界冲击方向,其中所述封装具有预定体积、预定形状和预定填充材料;基于所述临界冲击方向确定用于所述封装中的膜结构的一个或多个所要拉伸属性,其中所述一个或多个所要拉伸属性包括在加工方向上的韧性、在横向上的韧性、在加工方向上的断裂伸长率、在横向上的断裂伸长率、在加工方向上的断裂应力以及在横向上的断裂应力中的至少一个;以及基于所述一个或多个所要拉伸属性选择膜结构。 | ||
搜索关键词: | 用于 选择 封装 膜结构 方法 | ||
【主权项】:
一种用于选择用于封装中的膜结构的方法,包括:通过FEM分析确定封装的临界冲击方向,其中所述封装具有预定体积、预定形状和预定填充材料;基于所述临界冲击方向确定用于所述封装中的膜结构的一个或多个所要拉伸属性,其中所述一个或多个所要拉伸属性包括在加工方向上的韧性、在横向上的韧性、在加工方向上的断裂伸长率、在横向上的断裂伸长率、在加工方向上的断裂应力以及在横向上的断裂应力中的至少一个;以及基于所述一个或多个所要拉伸属性选择膜结构。
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