[发明专利]用于测量条状体的直径和/或壁厚的设备和方法有效
| 申请号： | 201680024669.1 | 申请日： | 2016-02-26 |
| 公开（公告）号： | CN107532883B | 公开（公告）日： | 2020-08-14 |
| 发明（设计）人： | H·斯考拉 | 申请（专利权）人： | 斯考拉股份公司 |
| 主分类号： | G01B11/06 | 分类号： | G01B11/06;G01B11/08 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人： | 俄旨淳 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种用于测量条状体的直径和/或壁厚的设备，所述条状体在横截面中基本上是圆形的并借助导向机构沿其纵轴线的方向被引导通过所述设备，所述设备包括至少一个用于发射太赫兹辐射的发射器，设有至少一个辐射光学器件，该辐射光学器件将由发射器发射的太赫兹辐射引导到被引导通过所述设备的条状体上，与至少一个发射器相对置地沿由至少一个发射器发射的太赫兹辐射的发射方向在条状体后面设置用于太赫兹辐射的反射器，所述设备还包括至少一个接收器，该接收器用于接收由所述至少一个发射器发射的并且在条状体上和/或反射器上反射的太赫兹辐射，并且所述设备还包括评价装置，所述评价装置设置成，借助由所述至少一个接收器接收的测量信号确定条状体的直径和/或壁厚。此外，本发明还涉及一种相应的方法。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 测量 条状 直径 设备 方法 | ||
【主权项】：
用于测量条状体(10、10’)的直径和/或壁厚的设备，所述条状体在横截面中基本上是圆形的并借助导向机构沿其纵轴线的方向被引导通过所述设备，所述设备包括至少一个用于发射太赫兹辐射(24)的发射器，其中，设有至少一个辐射光学器件(22)，所述辐射光学器件将由发射器发射的太赫兹辐射(24)引导到被引导通过所述设备的条状体(10、10’)上，其中，与至少一个发射器相对置地在由所述至少一个发射器发射的太赫兹辐射(24)的发射方向上在条状体(10、10’)后面设置用于太赫兹辐射(24)的反射器(46、46’)，所述设备还包括至少一个接收器，用于接收由所述至少一个发射器发射的并且在条状体(10、10’)上和/或反射器(46、46’)上反射的太赫兹辐射(24)，并且所述设备包括评价装置(30)，所述评价装置构造成，借助由所述至少一个接收器接收的测量信号来确定条状体(10、10’)的直径和/或壁厚。
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