[发明专利]认证设备和方法有效
| 申请号： | 201680029974.X | 申请日： | 2016-07-12 |
| 公开（公告）号： | CN107636735B | 公开（公告）日： | 2020-10-30 |
| 发明（设计）人： | 罗伯特·莱尔德·斯图尔特 | 申请（专利权）人： | 伊诺维亚薄膜有限公司 |
| 主分类号： | G07D7/202 | 分类号： | G07D7/202;G07D7/121 |
| 代理公司： | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人： | 王小衡;任庆威 |
| 地址： | 英国坎*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种认证设备，其操作来确定聚合物膜的真实性，所述认证设备包括基于光学的双折射测量设备，所述双折射测量设备操作来：●将所述膜暴露于第一波长或波长范围的第一光源；●将所述膜暴露于第二波长或波长范围的第二光源，所述第一波长或波长范围与所述第二波长或波长范围不同；●测量受到所述膜响应于所述第一光源的双折射特性影响的第一效果；●测量受到所述膜响应于所述第二光源的双折射特性影响的第二效果；●将代表所述第一效果与所述第二效果之间的比较的值或值范围与这样的值或值范围进行比较：其代表与真聚合物膜响应于所述第一光源和所述第二光源的预定双折射特性相对应的指定的第一效果与指定的第二效果之间的比较；以及●基于所述比较中的一个或多个来输出表示所述膜的真实性或不真实性的真实性信号。 | ||
| 搜索关键词： | 认证 设备 方法 | ||
【主权项】：
一种认证设备，其操作来确定聚合物膜的真实性，所述认证设备包括基于光学的双折射测量设备，所述双折射测量设备操作来：●将所述膜暴露于第一波长或波长范围的第一光源；●将所述膜暴露于第二波长或波长范围的第二光源，所述第一波长或波长范围与所述第二波长或波长范围不同；●测量受到所述膜响应于所述第一光源的双折射特性影响的第一效果；●测量受到所述膜响应于所述第二光源的双折射特性影响的第二效果；●将代表所述第一效果与所述第二效果之间的比较的值或值范围与代表与真聚合物膜响应于所述第一光源和所述第二光源的预定双折射特性相对应的指定的第一效果与指定的第二效果之间的比较的值或值范围进行比较；以及●基于所述比较中的一个或多个来输出表示所述膜的真实性或不真实性的真实性信号。
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