[发明专利]样品质谱分析有效
| 申请号： | 201680030782.0 | 申请日： | 2016-05-27 |
| 公开（公告）号： | CN107683476B | 公开（公告）日： | 2021-08-13 |
| 发明（设计）人： | 基思·乔治·理查森;史蒂文·德里克·普林格尔 | 申请（专利权）人： | 英国质谱公司 |
| 主分类号： | G16C20/20 | 分类号： | G16C20/20 |
| 代理公司： | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 | 代理人： | 宋融冰 |
| 地址： | 英国威*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种分析样品质谱的方法，该方法包括：将样品的样品质谱与多个基准质谱中的每个基准质谱进行比较。基于样品质谱与基准质谱之间的相似性，将相似性指数分配给多个基准质谱中的每个基准质谱。对于多个基准质谱的一个或多个分组中的每个分组，将属于该分组的基准质谱的相似性指数组合，从而为处于样品特征的第一层级水平的分组提供分组指数。属于每个分组的基准质谱是具有共同特定特征的基准样品的质谱。该方法提供根据属于基准样品的特定分组来将样品分类的方法。 | ||
| 搜索关键词： | 样品 谱分析 | ||
【主权项】：
一种分析样品质谱的计算机实现方法，所述方法包括：将样品的样品质谱与多个基准质谱中的每个基准质谱进行比较；基于所述样品质谱与所述基准质谱之间的相似性，将相似性指数分配给所述多个基准质谱中的每个基准质谱；和对于所述多个基准质谱的一个或多个分组中的每个分组，将属于所述分组的所述基准质谱的所述相似性指数组合，从而为处于样品特征的第一层级水平的所述分组提供分组指数，其中属于所述分组的所述基准质谱是具有共同特定特征的基准样品的质谱。
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