[发明专利]利用符号快速错误检测的硅后验证和调试

摘要

公开了用于验证集成电路的改进的方法和结构，特别是由其构造的片上系统。我们将根据本公开的方法和结构称为符号快速错误检测或符号QED。符号QED的说明性特征包括：1)适用于任何片上系统(SoC)设计，只要包含至少一个可编程处理器；2)广泛适用于处理器内核、加速器和非内核组件内的逻辑漏洞；3)不需要故障复现；4)漏洞定位期间不需要人工干预；5)不需要跟踪缓冲区；6)不需要断言；和7)使用称为“变化检测器”的硬件结构，仅引入小面积占用。符号QED展示了：1)在设计阶段嵌入“变化检测器”的系统的(和自动的)方法；2)快速错误检测(QED)测试，以较短的错误检测延迟和高覆盖率检测漏洞；和3)形式化技术，根据漏洞检测实现漏洞定位和生成最小漏洞跟踪。

主权项

一种用于数字硬件系统的硅后验证和调试的计算机实现的方法，包括以下步骤：在硬件系统的设计阶段，自动和系统地将多个变化检测器插入数字硬件系统；在具有插入的变化检测器的硬件系统上运行多次快速错误检测(QED)测试，其中变化检测器在运行期间记录调试信息；确定通过QED测试是否检测到错误(漏洞)；以及如果通过QED测试检测到一漏洞，然后通过使用形式化分析来定位检测到的漏洞并生成最小漏洞跟踪；以及为每个检测到的漏洞和最小漏洞跟踪输出一组候选位置。