[发明专利]粒子迁移率分析器在审

专利信息
申请号: 201680034964.5 申请日: 2016-06-10
公开(公告)号: CN107864668A 公开(公告)日: 2018-03-30
发明(设计)人: K·巴姆鲍尼斯;G·比斯考斯 申请(专利权)人: 代尔夫特工业大学
主分类号: G01N15/00 分类号: G01N15/00
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所11038 代理人: 秦晨
地址: 荷兰代*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 迁移率分析器包括第一电极和第二电极,所述电极中的一个接地并且所述电极中的另一个可连接到高压电源,该分析器还包括气溶胶入口以及鞘流动入口和鞘流动出口,以及具有样品入口和样品出口的至少一个样品流动通道,其中电极在提供有导电涂层的塑料材料中实施。
搜索关键词: 粒子 迁移率 分析器
【主权项】:
一种迁移率分析器(1),包括第一电极(2)和第二电极(3),所述电极中的一个接地,并且所述电极中的另一个可连接到电压源,该分析器(1)还包括气溶胶入口(4)以及鞘流动入口(9)和鞘流动出口(5)、以及具有粒子样品入口(7)和粒子样品出口(8)的至少一个粒子样品流动通道(6),其特征在于所述电极(2,3)以塑料材料实施,所述塑料材料被提供有选自下列中的一项:嵌入在所述塑料材料中的导电材料、和设置在所述塑料材料上的导电涂层(2',3')。
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