[发明专利]测量来自过程系统中设备的金属损耗的方法

摘要

一种测量来自过程系统中设备的金属损耗的方法。为监控过程设备中侵蚀和/或腐蚀(金属损耗)而安装的探测器，使用来自测量元件及基准元件的电阻率测量的结果，以便产生在暴露于过程液流的测量元件中金属损耗的测量，并且当测量的金属损耗超过阈值水平时，可以触发报警。现有技术的方法产生许多隐藏着真报警的误报警。本方法通过计算金属损耗计算中包含的置信度度量以便衰减噪声来忽略这些误报警，否则，噪声会产生误报警或在被监控的过程设备中的腐蚀或侵蚀状态的误解。

主权项

一种测量来自过程系统中与侵蚀性和/或腐蚀性过程流体接触的设备的金属损耗的方法，该过程系统包含气和油井中的暴露于从井下地层流出的流体中的管道和配件，其中该方法包括步骤：a)提供与过程流体接触的监控探测器，所述探测器包括暴露于过程流体的液流的一个或多个测量元件，以及防御过程流体的液流的基准元件，b)测量所述一个或多个测量元件的电阻Re，c)测量基准元件的电阻Rr，d)按照公式Δhe＝he‑hr·(Rr/Re)  (1)从测量的电阻率计算金属损耗Δhe，这里Δhe、Rr和Re如以上被定义，而he和hr分别代表所述至少一个测量元件和基准元件的原始厚度，其特征在于e)通过计算基准元件电阻值的稳定性或由附加温度传感器测量的探测器温度的稳定性，提供被观测的电阻率变化的置信度度量，以及f)把来自步骤e)的置信度度量应用于作为时间函数的电阻率变化的比较中，以便提供在所述一个或多个测量元件中的真实金属损耗的可信值，从而衰减该过程系统中由噪声引起的电阻率变化，并且当该置信度度量为低时，把电阻率变化衰减较高程度，而当该置信度度量为高时，把电阻率变化衰减较低程度。