[发明专利]光子检测装置以及光子检测方法有效
| 申请号： | 201680035554.2 | 申请日： | 2016-06-15 |
| 公开（公告）号： | CN107735655B | 公开（公告）日： | 2020-03-10 |
| 发明（设计）人： | 全伸幸;马渡康德;藤井刚;吉川信行 | 申请（专利权）人： | 国立研究开发法人产业技术综合研究所 |
| 主分类号： | G01J1/02 | 分类号： | G01J1/02;H01L39/00 |
| 代理公司： | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人： | 玉昌峰;吴孟秋 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供一种具有实用性、无剩余脉冲、能够进行抑制了暗计数的发生的光子检测、且能够获得低抖动并且高计数率的光子检测装置及光子检测方法。本发明的光子检测装置的特征在于，具有：光子检测部，具有板面作为光子检测面的长板状的超导带状线以及将偏压电流供给到上述超导带状线的偏压电流供给单元；以及单磁通量子比较器电路，在检测光子时，能够检测出从所述超导带状线飞散的磁通。 | ||
| 搜索关键词： | 光子 检测 装置 以及 方法 | ||
【主权项】：
一种光子检测装置，其特征在于，具有：光子检测部，具有板面作为光子检测面的长板状的超导带状线以及将偏压电流供给到所述超导带状线的偏压电流供给单元；以及单磁通量子比较器电路，在检测光子时，能够检测出从所述超导带状线飞散的磁通。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于国立研究开发法人产业技术综合研究所，未经国立研究开发法人产业技术综合研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201680035554.2/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：包括测量通道和副通道的流量计
- 下一篇：便携式电子设备及其压力检测装置和方法
