[发明专利]放射线检测元件的灵敏度校正方法以及放射线断层摄影装置有效

专利信息
申请号: 201680035775.X 申请日: 2016-04-05
公开(公告)号: CN107710018B 公开(公告)日: 2019-08-13
发明(设计)人: 桥爪宣弥;北村圭司;小林哲哉 申请(专利权)人: 株式会社岛津制作所
主分类号: G01T1/161 分类号: G01T1/161;G01T1/17
代理公司: 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 代理人: 刘新宇
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 利用在第一灵敏度系数计算工序(步骤S1)和第三灵敏度系数计算工序(步骤S3)中求出的灵敏度系数来进行γ射线检测器的灵敏度校正,由此基于灵敏度校正后的数据来获得重构图像,其中,在该第一灵敏度系数计算工序中,基于通过对来自旋转的校正用棒状射线源的γ射线进行检测而收集到的同时计数数据来按灵敏度因素分开地求出灵敏度系数,在该第三灵敏度系数计算工序中,基于在多个γ射线检测器的配置发生了变化的状态下收集到的同时计数数据来求出源自几何学配置的灵敏度系数。其结果,即使在构成检测器的多个γ射线检测器的配置可变且不是圆形配置的情况下,也能够获得无伪像的重构图像。
搜索关键词: 放射线 检测 元件 灵敏度 校正 方法 以及 断层 摄影 装置
【主权项】:
1.一种放射线检测元件的灵敏度校正方法,该放射线检测元件对从被检体内的放射性药剂产生的放射线进行检测,该灵敏度校正方法的特征在于,包括以下工序:第一灵敏度系数计算工序,基于由多个所述放射线检测元件收集到的同时计数数据来按灵敏度因素分开地求出灵敏度系数;第二灵敏度系数计算工序,在所述第一灵敏度系数计算工序之后,基于在多个所述放射线检测元件的配置变化之前收集到的同时计数数据来求出非几何学系因子的灵敏度系数;以及第三灵敏度系数计算工序,在所述第二灵敏度系数计算工序之后,基于在多个所述放射线检测元件的配置发生了变化的状态下收集到的同时计数数据来求出源自几何学配置的灵敏度系数,其中,利用在所述第一灵敏度系数计算工序、所述第二灵敏度系数计算工序以及所述第三灵敏度系数计算工序中求出的灵敏度系数来进行放射线检测元件的灵敏度校正。
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