[发明专利]形状测定装置和形状测定方法有效

专利信息
申请号: 201680036376.5 申请日: 2016-04-22
公开(公告)号: CN107683401B 公开(公告)日: 2019-11-15
发明(设计)人: 梅村纯;山地宏尚 申请(专利权)人: 日本制铁株式会社
主分类号: G01B11/24 分类号: G01B11/24
代理公司: 11277 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 代理人: 刘新宇<国际申请>=PCT/JP2016
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 提供一种形状测定装置,该形状测定装置在通过光切法来对测定对象物的凹凸形状进行测定时,即使测定对象物与摄像装置之间的距离发生变动,也能够高精度地对测定对象物的形状进行测定。形状测定装置具备:线状光位置检测部,其根据利用摄像装置对由线状光照射装置照射到测定对象物的线状光进行拍摄所得到的摄像图像,来检测线状光的线状光位置;距离运算部,其基于由线状光位置检测部检测出的线状光位置与基准线状光位置之间的距离差、规定的基准距离以及摄像装置的光轴与线状光的出射方向所成的角,来运算从摄像装置至测定对象物的距离,该基准线状光位置是在测定对象物位于与摄像装置相距基准距离的位置时由线状光位置检测部检测出的;焦点调整部,其基于从摄像装置至测定对象物的距离来调整摄像装置的焦点;以及形状运算部,其基于摄像图像来运算测定对象物的形状。
搜索关键词: 形状 测定 装置 方法
【主权项】:
1.一种形状测定装置,具备:/n线状光位置检测部,其根据利用摄像装置对由线状光照射装置照射到测定对象物的线状光进行拍摄所得到的摄像图像,来检测所述线状光的线状光位置;/n距离运算部,其基于由所述线状光位置检测部检测出的所述线状光位置与基准线状光位置之间的距离差、规定的基准距离以及所述摄像装置的光轴与所述线状光的出射方向所成的角,来运算从所述摄像装置至所述测定对象物的距离,该基准线状光位置是在所述测定对象物位于与所述摄像装置相距所述基准距离的位置时由所述线状光位置检测部检测出的;/n焦点调整部,其基于从所述摄像装置至所述测定对象物的距离来调整所述摄像装置的焦点;以及/n形状运算部,其基于所述摄像图像来运算所述测定对象物的形状,/n所述距离运算部基于使用所述摄像装置的摄像分辨率表示的距离函数,来运算从所述摄像装置至所述测定对象物的距离,/n所述距离运算部基于下述式(A)来运算所述从所述摄像装置至所述测定对象物的距离D,/n /n其中,D0为所述基准距离,r0为所述基准距离处的摄像分辨率,Xe为以所述摄像图像的像素为单位的所述线状光位置与所述基准线状光位置之间的距离差,θ为所述摄像装置的光轴与所述线状光的出射方向所成的角。/n
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